GSAT ½ÇÀü ¸ðÀÇ°í»ç °ÀÇ´Â ¾Õ¿¡ Çß´ø °ÀÇ¿Í µ¿ÀÏÇÏ°Ô ¹®Á¦Ç®À̶û ºü¸£°Ô ½Ç¼ö¾ÈÇÏ°í È®½ÇÈ÷ Ǫ´Â ÆÁµé¿¡ ´ëÇؼ ¼³¸íÇØÁּ̽À´Ï´Ù.
¹ÝµµÃ¼ °ÀÇ¿¡¼´Â 8´ë °øÁ¤ Áß Deposition °øÁ¤°ú ÇÔ²² ¹ÝµµÃ¼ ¹Ì¼¼È¿¡ °¡Àå Áß¿äÇÑ 2°¡Áö °øÁ¤ Photolithography ¶ó´Â °øÁ¤¿¡ ´ëÇؼ ÀÚ¼¼È÷ ¾Ë¾Æº¸´Â ½Ã°£ÀÌ¿´½À´Ï´Ù.
°øÁ¤¼ø¼·Î´Â 1. Photo resist Coating 2. Soft baking 3. Photo Mask Align 4. Exposure (³ë±¤) 5. Post exposure baking 6. Developing 7. Hard baking À¸·Î ±¸¼ºµÇ¾î ÀÖ½À´Ï´Ù. À̶§ photo resist °¡ ºû¿¡ ¹Î°¨ÇÑ ¹°ÁúÀ̱⠶§¹®¿¡ ºûÀÇ ÆÄÀåÀÌ ±ä »ö»óÀÎ Æ÷Åä°øÁ¤¿¡¼´Â Ç×»ó yellow room¿¡¼ ÁøÇàÇÏ°Ô µË´Ï´Ù. °¡Àå ±ä »¡°£»öÀº »ç¶÷ÀÌ °è¼Ó »¡°£»ö ·ë¿¡¼ ÀÏÀ» ÇÏ°Ô µÇ¸é Á¤¼»ó ¹®Á¦°¡ »ý±ä´Ù´Â ÀÌÀ¯·Î ´ÙÀ½À¸·Î ¿¡³ÊÁö°¡ °¡Àå Àû°í ÆÄÀåÀÌ ±ä ³ë¶õ»öÀ¸·Î ¼±Á¤µÇ¾ú½À´Ï´Ù.
1. PRÀº ºûÀ» ¹ÞÀ¸¸é ÈÇÐÀû ±¸Á¶°¡ ¹Ù²î´Â °íºÐÀÚ ¹°Áú·Î Resin °ú Solvent(¿ë¸Å) Photo active compound ·Î ±¸¼ºµÇ¾î ÀÖ½À´Ï´Ù. ÁÖ¿ä ÀÎÀڷδ wafer¿ÍÀÇ Á¢Âø¼º etching ÀúÇ×¼º, Àû´çÇÑ Á¡µµ (±ÕÀÏÇÑ ÄÚÆÃÀ» À§ÇØ), Çö»ó´É·Â, ¿Àû ¾ÈÁ¤¼º, Á¦°ÅÀÇ ¿ëÀ̼º µîÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ÄÚÆÃÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ¸·Î´Â HMDS Áõ±â¿¡ ³ëÃâ½ÃÄѼ wafer¿ÍÀÇ Á¢Âø¼ºÀ» Çâ»ó½ÃÅ°°í Spin coatingÀ» ÅëÇØ PR¿¡ µµÆ÷ÇÕ´Ï´Ù.
2. Soft bakingÀº PR¿¡ Æ÷ÇÔµÈ Solvent ¸¦ Á¦°ÅÇÏ°í wafer¿ÍÀÇ Á¢Âø¼º Çâ»ó Spin ÄÚÆà Áß ¿ø½É·Â¿¡ ÀÇÇؼ ¹ß»ýÇÑ stress¸¦ Á¦°ÅÇÕ´Ï´Ù. ³·Àº ¿Âµµ (90~100µµ)¿¡¼ 5~30ºÐ Á¤µµ ¿Ã³¸®¸¦ ÇÕ´Ï´Ù.
3. 2DÆÐÅÏÀ» ÁßøÇÏ¿© Á¤»óÀûÀÎ 3DÆÐÅÏÀ» ¸¸µé±â À§ÇÑ °úÁ¤À¸·Î Á¤È®ÇÑ À§Ä¡¿¡ ¿ì¸®°¡ ¿øÇÏ´Â ÆÐÅÏÀ» Çü¼ºÇÏ´Â °úÁ¤ÀÔ´Ï´Ù.
4. °¡Àå Áß¿äÇÑ °øÁ¤ÀÎ Exposure ³ë±¤Àº ±ÙÁ¢ ¹æ½Ä°ú Åõ¿µ ¹æ½ÄÀ¸·Î ³ª´¹´Ï´Ù. ±ÙÁ¢ ¹æ½Ä¿¡¼µµ (Contact / Proximity) ·Î ³ª´µ°í Contact ¹æ½ÄÀº Mask ¿Í PRÀ» Á¢Âø½ÃÅ°±â ¶§¹®¿¡ ºûÀÇ È¸Àý ¿µÇâÀÌ Àû¾î Á¤¹Ð ÆÐÅÏ ±¸Çö¿¡ À¯¸®ÇÏÁö¸¸ Mask¿Í PRÀÌ Á¢ÃËÇÔ¿¡ µû¶ó MaskÀÇ ¼ö¸íÀÌ ´ÜÃàÇÏ°Ô µÇ´Â ´ÜÁ¡ÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. Proximity ¹æ½ÄÀº Mask¿Í PRÀÌ ¶³¾îÁ® Àֱ⠶§¹®¿¡ ºûÀÇ È¸Àý ¿µÇâÀÌ Ä¿Á® Á¤¹Ð ÆÐÅÏ ±¸ÇöÀÌ ¾î·ÆÁö¸¸ Mask ¼ö¸í °¨¼ö À̽´¸¦ ÇؼÒÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
ÀÌ µÎ°¡Áö ¹æ¹ýÀÇ ´ÜÁ¡À» º¸¿ÏÇÑ Åõ¿µ(Projection) ¹æ½Ä Àº 2°³ÀÇ ·»Á »ç¿ëÇÏ¿© ȸÀýÀÇ ¿µÇ⼺À» ÃÖ¼ÒÈ ½ÃÅ°°í Mask¿Í PR »çÀÌ °£°Ýµµ ÃæºÐÇϱ⠶§¹®¿¡ ¼ö¸í¹®Á¦µµ ÇØ°áÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
±¤¿øÀÇ ÁÖ¿ä ÀÎÀڷδ Depth of focus ¿Í ResolutionÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. DOF´Â ÃÊÁ¡À» À¯ÁöÇÑ Ã¤·Î ¿òÁ÷ÀÏ ¼ö ÀÖ´Â ¹üÀ§À̸ç res´Â ±¸º°Çس¾ ¼ö ÀÖ´Â °¡Àå ¹Ì¼¼ÇÑ Â÷À̸¦ ÀǹÌÇÕ´Ï´Ù. DOF´Â Ŭ¼ö·Ï res´Â ÀÛÀ»¼ö·Ï À¯¸®Çѵ¥ ºûÀÇ ÆÄÀåÀ» ÀÛ°ÔÇÏ°í ·»ÁîÀÇ °³±¸¼ö¸¦ Å©°ÔÇÏ¿© ÃÖÀûÈ ÇÕ´Ï´Ù. À̶§ DOF°¡ ÀÛ¾ÆÁö°Ô µÇ´Âµ¥ ÀÌ¿¡ µû¶ó CMP¿Í PRµÎ²² °¨¼Ò µîÀ» ÅëÇؼ ´ëÀÀÇÕ´Ï´Ù. resÀÇ °æ¿ì RET·Î ´ëÀÀÇÕ´Ï´Ù. ȸ·Î ¹Ì¼¼È ±â¼ú Áß Immersion ±â¼úÀº ºûÀÇ ±¼Àý·üÀÌ ±âü¿¡¼º¸´Ù ¾×ü¿¡¼ ´õ Å©´Ù´Â Á¡À» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ·»Áî¿Í PR»çÀ̸¦ DI Water(¼ø¼öÇÑ ¹°)·Î ä¿ö res¸¦ °¨¼Ò½ÃÅ°´Â ¹æ¹ýÀÌ°í °øÁ¤ Factor¸¦ Çâ»ó½ÃÅ°´Â ¹æ¹ýÀº OAI OPC PSM ¹æ½ÄÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ¸¶Áö¸·À¸·Î Double patterning À¸·Î LELE, LFLE, Side wall spacer ÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù.
5. P.E baking Àº ³ë±¤ °úÁ¤¿¡¼ »ý±ä Ç¥¸éÀÇ ´ÜÂ÷¸¦ Á¦°ÅÇÏ¿© PRÇ¥¸éÀ» ÆòÅºÈ ÇÕ´Ï´Ù. Soft baking º¸´Ù ³ôÀº ¿Âµµ(110~120µµ)¿¡¼ ¿Ã³¸®ÇÏ°Ô µË´Ï´Ù.
6. Devloping Àº Çö»ó¾×À» »Ñ·Á Exposure µÈ ºÎºÐ°ú µÇÁö¾Ê´Â ºÎºÐÀ» ¼±ÅÃÀûÀ¸·Î Á¦°ÅÇÏ´Â °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù.
7. Hard baking Àº Etching resistance ¹× waferÀÇ Á¢Âø¼ºÀ» Çâ»ó½ÃÅ°´Â °úÁ¤À¸·Î Çö»ó¾×, ¸°½º¾×, ¼¼Á¤¾× µîÀ» Á¦°ÅÇÕ´Ï´Ù. 120~180µµÀÇ ¿Âµµ¿¡¼ 20~30ºÐ°¡·® ¿Ã³¸® ÇϰԵ˴ϴÙ.
Hard baking ÀÌ Á¾·áµÈ ÈÄ Etching, Doping µî ÈÄ¼Ó °øÁ¤À» ÁøÇàÇÏ°Ô µÇ°í ÈÄ¼Ó °øÁ¤ ¿Ï·á ÈÄ PRÀ» Á¦°ÅÇÏ´Â °ÍÀ¸·Î Photolitography °øÁ¤À» ¸¶¹«¸®ÇÏ°Ô µË´Ï´Ù.